ספקטרוסקופיית פירוק מושרה על ידי לייזר

ספקטרוסקופיית פירוק מושרה באמצעות לייזר (LIBS), הידועה גם בשם ספקטרוסקופיית פלזמה מושרה באמצעות לייזר (LIPS), היא טכניקת גילוי ספקטרלי מהירה.

על ידי מיקוד פולס הלייזר בעל צפיפות אנרגיה גבוהה על פני השטח של המטרה של הדגימה הנבדקת, הפלזמה נוצרת על ידי עירור אבלציה, ולאחר מכן על ידי ניתוח הקווים הספקטרליים האופייניים המוקרנים על ידי מעבר רמת אנרגיית האלקטרונים של החלקיקים בפלזמה, ניתן לקבל את סוגי ותכולת היסודות הכלולים בדגימה.

בהשוואה לשיטות גילוי יסודות הנפוצות כיום, כגון ספקטרומטריית פליטה אופטית פלזמה מצומדת אינדוקטיבית (ICP-OES), ספקטרומטריית מסה פלזמה-אופטית מצומדת אינדוקטיבית (Inductively Coupled PlasmaOptical Emission Spectrometry), ספקטרומטריית מסה פלזמה מצומדת אינדוקטיבית (ICP-MS), פלואורסצנציה של קרני רנטגן (XRF), ספקטרוסקופיית פליטה אופטית של פריקת ניצוצות, SD-OES). באופן דומה, LIBS אינו דורש הכנת דגימה, יכול לזהות בו זמנית יסודות מרובים, יכול לזהות מצבים מוצקים, נוזליים וגזיים, וניתן לבדוק אותו מרחוק ומקוון.

לכן, מאז הופעתה של טכנולוגיית LIBS בשנת 1963, היא משכה את תשומת הלב הרחבה של חוקרים במדינות שונות. יכולות הגילוי של טכנולוגיית LIBS הודגמו פעמים רבות במעבדות. עם זאת, בסביבת שטח או במצב בפועל של אתר תעשייתי, טכנולוגיית LIBS צריכה להציב דרישות גבוהות יותר.

לדוגמה, מערכת LIBS תחת פלטפורמת האופטיקה של המעבדה חסרת עוצמה במקרים מסוימים כאשר קשה לדגום או להעביר דגימות עקב כימיקלים מסוכנים, חומרים רדיואקטיביים או סיבות אחרות, או כאשר קשה להשתמש בציוד אנליטי גדול בחלל צר.

עבור תחומים ספציפיים, כגון ארכיאולוגיה בשטח, חיפושי מינרלים, אתרי ייצור תעשייתיים, גילוי בזמן אמת חשוב יותר, ויש צורך בציוד אנליטי נייד וממוזער.

לכן, על מנת לענות על הצרכים של פעולות שטח וייצור תעשייתי, גילוי מקוון וגיוון מאפייני דגימות, ניידות הציוד, יכולת עמידות בסביבה קשה ומאפיינים חדשים אחרים הפכו לדרישות חדשות וגוברות יותר עבור טכנולוגיית LIBS ביישומים תעשייתיים, LIBS נייד נוצר, והוא עורר עניין רב בקרב חוקרים במדינות שונות.