ספקטרוסקופיית פירוט הנגרמת על ידי לייזר

ספקטרוסקופיה של פירוט הנגרמת על ידי לייזר (LIBS), המכונה גם ספקטרוסקופיה של פלזמה הנגרמת על ידי לייזר (LIPS), היא טכניקת גילוי ספקטרלית מהירה.

על ידי מיקוד דופק הלייזר עם צפיפות אנרגיה גבוהה על פני היעד של הדגימה שנבדקה, הפלזמה נוצרת על ידי עירור אבלציה, ואז על ידי ניתוח הקווים הספקטרליים האופייניים המוקרנים על ידי המעבר ברמת האנרגיה האלקטרונית של החלקיקים בפלזמה, סוגים ומידע התוכן של האלמנטים המכינים במדגם יכולים להיות מקבלים.

בהשוואה לשיטות גילוי האלמנטים הנפוצות כיום, כגון ספקטרומטריית פליטה פלסמופטית משולבת באופן אינדוקטיבי (ICP-OES), משולבת באופן אינדוקטיבי, משולבת באופן אינדוקטיבי, משולבת באופן אינדוקטיבי, משולבת בפלזמה (ספקטרומטריה של פליטת פליטה), Spancence PlueRcectial Pluarmetic, Spantice, Spancectic Pluorscement, Spantice, Spancectic Pluarcence, Pluarcence, pluarcence (ICP-MS), Pluarcement (XP-MS), Pluarce Pluarcement (XP, ספקטרוסקופיה, SD-OES) באופן דומה, LIBS אינה דורשת הכנת דגימה, יכולה לאתר בו זמנית אלמנטים מרובים, יכולה לאתר מצבי מוצק, נוזלים וגז, וניתן לבדוק אותה מרחוק ובאינטרנט.

לפיכך, מאז כניסתם של טכנולוגיית LIBS בשנת 1963, היא משכה את תשומת הלב הרחבה של חוקרים במדינות שונות. יכולות הגילוי של טכנולוגיית LIBS הוכחו פעמים רבות במסגרות מעבדה. עם זאת, בסביבת השדה או במצבו בפועל של האתר התעשייתי, טכנולוגיית ה- LIBS צריכה להעלות דרישות גבוהות יותר.

לדוגמה, מערכת LIBS תחת הפלטפורמה האופטית במעבדה היא חסרת אונים במקרים מסוימים כאשר קשה לדגום או להעביר דגימות בגלל כימיקלים מסוכנים, חומרים רדיואקטיביים או סיבות אחרות, או כאשר קשה להשתמש בציוד אנליטי גדול במרחב צר.

עבור תחומים ספציפיים מסוימים, כמו ארכיאולוגיה שדה, חקר מינרלים, אתרי ייצור תעשייתיים, גילוי בזמן אמת הוא חשוב יותר, והצורך בציוד אנליטי נייד ונייד.

לפיכך, על מנת לענות על צרכי פעולות שדה וייצור תעשייתי גילוי מקוון וגיוון מאפייני מדגם, ניידות הציוד, יכולת הסביבה האנטי-חרשתית ומאפיינים חדשים אחרים הפכו לדרישות חדשות וגבוהות יותר לטכנולוגיית LIBS ביישומים תעשייתיים, נערכו LIBs ניידים, והיו מודאגים באופן נרחב על ידי חוקרים במדינות שונות.